产品信息
特 点
● 可测量0nm~的低（残留）相位差
● 在光轴检出同时，高速测量相位差 (Re.)
（世界领先的0.1秒以下的高速处理）
● 无驱动部，实现高再现性
● 需设置项目少，测量简单
● 测量波长除550nm以外，还有其他多种波长可选
● Rth测量、全方位角测量
（需要自动倾斜平台，选配件）
● 通过与拉伸试验机结合，可同时评估膜的偏光特性和光弹性
（此系统为定制）
测量项目
● 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
● 主轴方位角（θ[deg.]）
● 椭圆率（ε）· 方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
● 相位差膜、偏光膜、视野角补偿膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明带有低相位差的样品（残留应力）
